二手設備
半導體測試設備
SOC ATE、存儲器測試機、晶圓探針臺、分選機等，全球尋源，專家驗證。
二手設備
SOC ATE、存儲器測試機、晶圓探針臺、分選機等，全球尋源，專家驗證。
112 條設備
| 預覽 | 編號 | 品牌 | 型號 | 類別 | 狀態 | 說明 |
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| TEL-TELP8XLP-880 | TEL | P-8XL Parts | 晶圓探針台 | 在售 | Teradyne P-8XL Parts. Spare parts for P-8XL probers. Let us know your needs. PRICE, Upon request. ID#, 88997. Make, Teradyne. Model, P-8XL Parts | |
| S-GL-079 | esi | 9830 | 雷射修復/修剪 | 在售 | Trading the 9830, like other laser repair and trim systems, requires special knowledge of the market and laser-based technology. | |
| S-GL-078 | esi | 9820 | 雷射修復/修剪 | 在售 | The 9820 is the most popular model from the 98xx platform, primarily aimed at memory repair. | |
| S-GL-021 | NexTest | Maverick | 系統單晶片 自動測試設備 / 混合訊號 | 在售 | First shipped 1998; still sees trading activity today for small to medium FLASH and SOC devices. | |
| 90549 | Teradyne | J750 | 系統單晶片 自動測試設備 / 混合訊號 | 在售 | Teradyne J750 4M and 16M systems and parts available | |
| 91103 | Teradyne | J750 | 系統單晶片 自動測試設備 / 混合訊號 | 在售 | Full up 512 pin Test Head J750 with 100MHz and 16M LVM. Good working condition. TEAM can configure. | |
| 92205 | Verigy | V93000 PS | 系統單晶片 自動測試設備 / 混合訊號 | 在售 | Large and Small test head systems available. TEAM will configure to your specifications. | |
| 93287 | NexTest | Maverick | 系統單晶片 自動測試設備 / 混合訊號 | 在售 | VLSI Test System | |
| 93648 | Teradyne | microFLEX Parts | 系統單晶片 自動測試設備 / 混合訊號 | 在售 | HSD-200, BBAC, DC-30 | |
| 92963 | TEL | P12XLn+ | 晶圓探針台 | 在售 | Available 2019 (includes tri-temp chuck) | |
| 93346 | Accretech/TSK | UF3000 | 晶圓探針台 | 在售 | To work with 440 mm probe card preferred | |
| 92941 | Credence | ASL-x | 系統單晶片 自動測試設備 / 混合訊號 | 在售 | Credence ASL-x Tester |