二手設備
半導體測試設備
SOC ATE、存儲器測試機、晶圓探針臺、分選機等，全球尋源，專家驗證。
二手設備
SOC ATE、存儲器測試機、晶圓探針臺、分選機等，全球尋源，專家驗證。
64 條設備
| 預覽 | 編號 | 品牌 | 型號 | 類別 | 狀態 | 說明 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| TER-IFLEX-717 | Teradyne | iFLEX | 系統單晶片 自動測試設備 / 混合訊號 | 求購 | TEAM A.T.E. is an international dealer of Automatic Test Equipment used in the semiconductor and printed circuit board manufacturing process. | |
| S-GL-021 | NexTest | Maverick | 系統單晶片 自動測試設備 / 混合訊號 | 在售 | First shipped 1998; still sees trading activity today for small to medium FLASH and SOC devices. | |
| 90549 | Teradyne | J750 | 系統單晶片 自動測試設備 / 混合訊號 | 在售 | Teradyne J750 4M and 16M systems and parts available | |
| 91103 | Teradyne | J750 | 系統單晶片 自動測試設備 / 混合訊號 | 在售 | Full up 512 pin Test Head J750 with 100MHz and 16M LVM. Good working condition. TEAM can configure. | |
| 92205 | Verigy | V93000 PS | 系統單晶片 自動測試設備 / 混合訊號 | 在售 | Large and Small test head systems available. TEAM will configure to your specifications. | |
| 93287 | NexTest | Maverick | 系統單晶片 自動測試設備 / 混合訊號 | 在售 | VLSI Test System | |
| 93648 | Teradyne | microFLEX Parts | 系統單晶片 自動測試設備 / 混合訊號 | 在售 | HSD-200, BBAC, DC-30 | |
| 92941 | Credence | ASL-x | 系統單晶片 自動測試設備 / 混合訊號 | 在售 | Credence ASL-x Tester | |
| 93492 | Teradyne | J750ex | 系統單晶片 自動測試設備 / 混合訊號 | 在售 | can custom configure | |
| 94816 | NI | PXle | 系統單晶片 自動測試設備 / 混合訊號 | 在售 | RF test equipment used for 5G and WiFi testing | |
| S-GL-004 | Teradyne | J750 | 系統單晶片 自動測試設備 / 混合訊號 | 在售 | Simple yet innovative design; the most widely used test platform in the market today. | |
| S-GL-006 | Teradyne | IP750 | 系統單晶片 自動測試設備 / 混合訊號 | 在售 | Leverages the innovative architecture of the J750 into the image sensor test arena. |